俄歇電子能譜分析（AES）
X射線分析 (X-ray)
金相切片分析 (Metallographic)
SEM和EDS分析 (SEM&EDS)
激光共聚焦顯微拉曼光譜分析 (Micro Raman spectroscopy)
X射線衍射分析（XRD）
顯微傅里葉紅外光譜分析 (FTIR)
聲學掃描分析（C-SAM）
透視電子顯微鏡（TEM）
X射線熒光光譜分析（XRF）
染色分析 (Staining)
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| 電感耦合等離子體發射光譜儀(ICP-OES) | X-RAY透視顯微鏡 | 氣相色譜-質譜聯用儀GC-MS |
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| 掃描電子顯微鏡與能譜儀SEM/EDS | 聲學掃描顯微鏡SAM | 透射電子顯微鏡TEM |
